Test de circuitos integrados VLSI y sistemas robustos

Petrashin, Pablo Antonio dir. ORCID: https://orcid.org/0000-0003-2607-6196 (2016) Test de circuitos integrados VLSI y sistemas robustos. [Proyecto de investigación]

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Resumen

El objetivo general será la búsqueda de arquitecturas circuitales que permitan el fácil testeo del chip, la robusticidad ante daños por radiación y su implementación en tecnologías CMOS.

Tipo de documento:	Proyecto
Palabras clave:	Microelectrónica. Fallas. Sistemas Robustos.
Temas:	T Tecnología > TK ingeniería eléctrica. Ingeniería electrónica nuclear
Unidad académica:	Universidad Católica de Córdoba > Facultad de Ingeniería
Google Académico:	Ver citaciones
URI:	http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/id/eprint/999

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